Các phép đo độ dẫn nhiệt và độ khuếch tán nhiệt giữa RT và 1250°C với đèn Xenon

LFA 467 HT HyperFlash® phát triển trên cơ sở công nghệ nền tảng của LFA 467 HyperFlash® và không yêu cầu lớp laser do hệ thống nguồn sáng đổi mới tiên tiến. Tuổi thọ bền của đèn xenon cung cấp giải pháp đo với chi phí hiệu quả ở mức nhiệt độ lên đến 1250°C mà không tốn chi phí vật tư tiêu hao.

Tốc độ lấy mẫu cực kỳ nhanh (lên đến 2MHz) và độ rộng xung cực ngắn (lên đến 20 µs) cho phép đo các vật liệu có độ dẫn cao và mỏng

Tốc độ thu nhận dữ liệu của các dòng LFA 467 HyperFlash® được cải tiến tăng lên đến 2MHz. Tốc độ thu nhận này áp dụng cho cả đầu dò IR và các kênh lập biểu đồ xung. Vì vậy, các vật liệu mỏng và/hoặc có độ dẫn cao cần thời gian thử nghiệm rất ngắn với độ tin cậy cao.