PHÂN TÍCH NHIỆT ĐỒNG THỜI (STA = TGA+DSC)
Ứng dụng đồng thời của Phân tích Nhiệt lượng quét vi sai (DSC) và Trọng lượng nhiệt (TGA) đối với một mẫu thử trong cùng một hệ STA cung cấp cho bạn nhiều thông tin hơn so với ứng dụng riêng lẻ bởi hai hệ khác nhau:
Các điều kiện thí nghiệm được xác định hoàn hảo đối với tín hiệu DSC và TG (cùng môi trường khí, tốc độ lưu lượng, áp suất hóa hơi trên mẫu, tốc độ gia nhiệt, tương tác nhiệt đến chén mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ,…)
Các điều kiện thí nghiệm được xác định hoàn hảo đối với tín hiệu DSC và TG (cùng môi trường khí, tốc độ lưu lượng, áp suất hóa hơi trên mẫu, tốc độ gia nhiệt, tương tác nhiệt đến chén mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ,…)
- Khả năng phân tích tín hiệu được cải thiện, vì hai hay nhiều thông tin liên quan đến thuộc tính mẫu luôn có sẵn (phân biệt giữa chuyển hóa phase và phân hủy, giữa phản ứng cộng và ngưng tụ, nhận biết phản ứng nhiệt phân, oxy hóa, và phản ứng đốt cháy,…)
- Từ những ngày đầu thành lập, NETZSCH- Gerätebau GmbH vẫn luôn ưu tiên cao cho việc phát triển và liên tục tối ưu hóa thiết bị phân tích nhiệt đồng thời; ngày nay, chúng đứng ở vị trí dẫn đầu thị trường trong mảng phân tích nhiệt như là một kết quả xứng đáng với công nghệ tuyệt vời của họ.
PHÂN TÍCH NHIỆT ĐỒNG THỜI (STA = TGA+DSC) SẢN PHẨM
STA 2500 Regulus
STA 2500 Regulus là thiết bị được trang bị đầy đủ các yếu tố thực hiện phép đo STA lên đến 1600°C có độ tin cậy cao với một mức giá hấp dẫn.
STA 449 F5 Jupiter®
STA 449 F5 Jupiter® với thiết kế kín chân không được chế tạo thủ công dành riêng cho các ứng dụng đặc biệt. Mỗi thiết bị đều được lên cấu hình trước mỗi khi bạn cần, với tất cẩ các đặc điểm phần cứng và phần mềm được yêu cầu cho những ứng dụng nhiệt độ cao trong mảng gốm sứ, vô cơ, vật liệu xây dựng, etc.
STA 449 F3 Jupiter®
Thiết bị phân tích nhiệt đồng thời STA 449 F3 Jupiter® của NETZSCH cho phép đo sự thay đổi khối lượng và hiệu ứng nhiệt giữa -150°C và 2400°C.
STA 449 F1 Jupiter®
STA 449 F1 Jupiter® kết hợp tính linh hoạt của cấu hình không giới hạn và hiệu suất chưa từng có trong cùng một thiết bị. Bằng cách ghép nối bổ sung với MS và/hoặc FT-IR để có thể thực hiện các phân tích toàn diện hơn.