Thiết bị kiểm tra vật liệu sắt điện Precision LC II

Precision LCII là câu trả lời của Radiant cho nhu cầu ngày càng tăng về thiết bị mô tả đặc tính giá cả phải chăng. Precision LCII là thiết bị thử nghiệm đa năng lý tưởng với phạm vi thử nghiệm rộng cho màng mỏng và đồ gốm số lượng lớn. Máy kiểm tra Precision LCII có định mức tần số 5KHz tại +/- 200V được tích hợp sẵn trong hệ thống. Sử dụng lên đến 32.000 điểm với độ phân giải 18-bit từ 2kHz ra đến 1/130 Hertz cho các tụ điện có kích thước từ micromet vuông đến centimet vuông, LC II cho phép mô tả độ phân giải cao cho các tụ điện số lượng lớn. Precision LCII II được cung cấp với nhiều bộ khuếch đại bên trong. Precision LCII được cung cấp trong tùy chọn vôn truyền động tích hợp ± 10V, 30V, 100V, 200V và 500V. Precision LCII có thể được mở rộng đến 10kV với việc bổ sung giao diện điện áp cao và bộ khuếch đại.

Liên Hệ
Thông số Tester LC II
Dải điện áp (tích hợp điện áp truyền động) ±10V, ±30V, ±100V, ±200V or ±500V built-in
Dải điện áp với bộ khuếch đại bên ngoài và giao diện điện áp cao (HVI)
10KV
Số Bits ADC 18
Độ phân giải nạp tối thiểu <10fC< /td>
Độ phân giải diện tích tối thiểu (assuming 1 ADC bit = 1μC/cm2) <1μ2< /td>
Độ phân giải nạp tối đa 276μC
Độ phân giải diện tích tối đa (assuming saturation polarization = 100μC/cm2) 2.76cm2
Độ phận giải nạp tối đa với giao diện điện áp cao (HVI) 27.6mC
Độ phân giải diện tích tối đa (assuming saturation polarization = 100μC/cm2) w/o HVI >100cm2
Tần số trễ tối đa 5KHz @ 10V
5KHz @ 30V
5KHz @ 100V
5KHz @ 200V
2KHz @ 500V
Tần số trễ tối thiểu 0.03Hz
Độ rộng xung tối thiểu 50μs
Thời gian tăng xung tối thiểu (5V) 40μs
Độ rộng xung tối đa 1s
Hiển thị tối đa giữa các xung 40ks
Đồng hồ nội bộ 25ns
Rò rỉ dòng tối thiểu (assuming max current integration period = 1 seconds) 1pA
Tần số nguồn tín hiệu nhỏ tối đa 20KHz
Tần số nguồn tính hiệu nhỏ tối thiểu 1Hz
Kiểm soát thời gian tăng đầu ra 103 scaling
Điện dung đầu vào -6fF
Điện kế đầu vào Tất cả các tần số kiểm tra cho tất cả các bài kiểm tra ở tốc độ bất kỳ Yes
* Độ phân giải diện tích tối thiểu trong điều kiện thử nghiệm thực tế phụ thuộc vào môi trường nhiễu bên trong của máy thử, môi trường nhiễu bên ngoài và điện dung ký sinh của đồ gá thử nghiệm.
*** Thông số kỹ thuật của Tester có thể thay đổi mà không cần báo trước.
TOP