LMS Technologies Vietnam

Máy Dò Khuyết Tật Quang Học Siêu Âm MIV-X

Máy Dò Khuyết Tật Quang Học Siêu Âm MIV-X

Với MIV-X, bạn có thể quan sát các vết nứt, vết lồi lõm, bong tróc và các khiếm khuyết ẩn khác mà bằng mắt thường không kiểm tra được.

Bất kỳ ai cũng có thể thực hiện Kiểm tra Bề mặt Trực quan một cách nhanh chóng và dễ dàng, nhờ kỹ thuật chụp ảnh ánh sáng độc quyền của Shimadzu, kết hợp một bộ dao động siêu âm cùng một đèn chớp. Các khuyết tật gần bề mặt vật liệu, bao gồm bong tróc bề mặt liên kết và kết dính của các vật liệu không đồng nhất, cũng như sơn, phun nhiệt và lớp phủ có thể được kiểm tra dễ dàng và không bị phá hủy.

– Chỉ cần gắn bộ dao động siêu âm vào mẫu và đặt máy ảnh trên bề mặt cần kiểm tra.

– Sự lan truyền của sóng siêu âm được hiển thị nhanh chóng và các sai sót dễ dàng được xác định từ video.

– Phần mềm dễ vận hành được cải tiến với các chức năng đánh dấu khuyết tật và đo kích thước dễ dàng.

– Dòng sản phẩm này bao gồm một bộ zoom quang học tùy chọn, có thể phát hiện ra các lỗ hổng nhỏ hơn.
Để biết thêm thông tin, vui lòng truy cập: