Máy Dò Khuyết Tật Quang Học Siêu Âm MIV-X
Với MIV-X, bạn có thể quan sát các vết nứt, vết lồi lõm, bong tróc và các khiếm khuyết ẩn khác mà bằng mắt thường không kiểm tra được.
Bất kỳ ai cũng có thể thực hiện Kiểm tra Bề mặt Trực quan một cách nhanh chóng và dễ dàng, nhờ kỹ thuật chụp ảnh ánh sáng độc quyền của Shimadzu, kết hợp một bộ dao động siêu âm cùng một đèn chớp. Các khuyết tật gần bề mặt vật liệu, bao gồm bong tróc bề mặt liên kết và kết dính của các vật liệu không đồng nhất, cũng như sơn, phun nhiệt và lớp phủ có thể được kiểm tra dễ dàng và không bị phá hủy.
– Chỉ cần gắn bộ dao động siêu âm vào mẫu và đặt máy ảnh trên bề mặt cần kiểm tra.
– Sự lan truyền của sóng siêu âm được hiển thị nhanh chóng và các sai sót dễ dàng được xác định từ video.
– Phần mềm dễ vận hành được cải tiến với các chức năng đánh dấu khuyết tật và đo kích thước dễ dàng.
– Dòng sản phẩm này bao gồm một bộ zoom quang học tùy chọn, có thể phát hiện ra các lỗ hổng nhỏ hơn.
Bất kỳ ai cũng có thể thực hiện Kiểm tra Bề mặt Trực quan một cách nhanh chóng và dễ dàng, nhờ kỹ thuật chụp ảnh ánh sáng độc quyền của Shimadzu, kết hợp một bộ dao động siêu âm cùng một đèn chớp. Các khuyết tật gần bề mặt vật liệu, bao gồm bong tróc bề mặt liên kết và kết dính của các vật liệu không đồng nhất, cũng như sơn, phun nhiệt và lớp phủ có thể được kiểm tra dễ dàng và không bị phá hủy.
– Chỉ cần gắn bộ dao động siêu âm vào mẫu và đặt máy ảnh trên bề mặt cần kiểm tra.
– Sự lan truyền của sóng siêu âm được hiển thị nhanh chóng và các sai sót dễ dàng được xác định từ video.
– Phần mềm dễ vận hành được cải tiến với các chức năng đánh dấu khuyết tật và đo kích thước dễ dàng.
– Dòng sản phẩm này bao gồm một bộ zoom quang học tùy chọn, có thể phát hiện ra các lỗ hổng nhỏ hơn.
Đặc điểm
Video
Đặc điểm
Kỹ thuật chụp ảnh ánh sáng độc quyền của Shimadzu
Với công nghệ phát hiện khuyết tật quang học siêu âm, mẫu được kích thích và sự dịch chuyển bề mặt được phát hiện về mặt quang học, sự lan truyền sóng siêu âm trên bề mặt được quan sát.
– Mẫu được nạp bằng các rung động siêu âm liên tục.
– Sự dịch chuyển ra ngoài mặt phẳng vi mô của bề mặt do sự lan truyền của sóng siêu âm được quna sát về mặt quang học bằng cách sử dụng chiếu xạ laser và máy ảnh.
– Các khuyết tật được phát hiện bằng cách quan sát các nhiễu loạn trong quá trình truyền sóng siêu âm.
Máy dò khuyết tật quang học siêu âm MIV-X hỗ trợ các khu vực khó kiểm tra siêu âm (UT)
– Kiểm tra hàng loạt khu vực rộng trong phạm vi quan sát của máy ảnh
– Kiểm tra tốt ở bề mặt và gần bề mặt
– Không cần phải lo lắng về sự khác biệt trong trở kháng âm thanh ngay cả đối với các vật liệu khác nhau
Chức năng loại bỏ tiếng ồn đơn giản hóa việc xác định khuyết tật
Chức năng đánh dấu và hiển thị kích thước đơn giản hóa việc xác định vị trí và kích thước khiếm khuyết
Bộ thu phóng quang học (Có sẵn tùy chọn) để phát hiện các khiếm khuyết nhỏ hơn
Với công nghệ phát hiện khuyết tật quang học siêu âm, mẫu được kích thích và sự dịch chuyển bề mặt được phát hiện về mặt quang học, sự lan truyền sóng siêu âm trên bề mặt được quan sát.
– Mẫu được nạp bằng các rung động siêu âm liên tục.
– Sự dịch chuyển ra ngoài mặt phẳng vi mô của bề mặt do sự lan truyền của sóng siêu âm được quna sát về mặt quang học bằng cách sử dụng chiếu xạ laser và máy ảnh.
– Các khuyết tật được phát hiện bằng cách quan sát các nhiễu loạn trong quá trình truyền sóng siêu âm.
Máy dò khuyết tật quang học siêu âm MIV-X hỗ trợ các khu vực khó kiểm tra siêu âm (UT)
– Kiểm tra hàng loạt khu vực rộng trong phạm vi quan sát của máy ảnh
– Kiểm tra tốt ở bề mặt và gần bề mặt
– Không cần phải lo lắng về sự khác biệt trong trở kháng âm thanh ngay cả đối với các vật liệu khác nhau
Chức năng loại bỏ tiếng ồn đơn giản hóa việc xác định khuyết tật
Chức năng đánh dấu và hiển thị kích thước đơn giản hóa việc xác định vị trí và kích thước khiếm khuyết
Bộ thu phóng quang học (Có sẵn tùy chọn) để phát hiện các khiếm khuyết nhỏ hơn
Video