LFA 717 HyperFlash®
LFA 717 HyperFlash®: Đo lường độ khuếch tán nhiệt chính xác cho phân tích vật liệu
LFA 717 HyperFlash® là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để xác định chính xác độ khuếch tán nhiệt trên nhiều loại vật liệu khác nhau. Độ khuếch tán nhiệt (ký hiệu ‘a’ với đơn vị mm²/s) là một tính chất đặc trưng của vật liệu dùng để mô tả tốc độ một chất phản ứng với sự thay đổi nhiệt độ, phản ánh khả năng dẫn nhiệt của thiết bị trong điều kiện không ổn định. Với các mô hình tính toán tinh vi, HyperFlash® dẫn đầu sự đổi mới khoa học, cung cấp các kết quả chính xác, cần thiết cho việc phân tích vật liệu toàn diện.
LFA 717 HyperFlash® là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để xác định chính xác độ khuếch tán nhiệt trên nhiều loại vật liệu khác nhau. Độ khuếch tán nhiệt (ký hiệu ‘a’ với đơn vị mm²/s) là một tính chất đặc trưng của vật liệu dùng để mô tả tốc độ một chất phản ứng với sự thay đổi nhiệt độ, phản ánh khả năng dẫn nhiệt của thiết bị trong điều kiện không ổn định. Với các mô hình tính toán tinh vi, HyperFlash® dẫn đầu sự đổi mới khoa học, cung cấp các kết quả chính xác, cần thiết cho việc phân tích vật liệu toàn diện.
Để biết thêm thông tin, vui lòng truy cập:
Các tính năng chính
Thông số kỹ thuật
Các tính năng chính
Tính linh hoạt cao của mẫu: LFA 717 HyperFlash® có thể xử lý nhiều loại vật liệu mẫu, bao gồm cả mẫu hình tròn và hình vuông. Bộ thay mẫu tự động của thiết bị giúp tăng hiệu quả phòng thí nghiệm bằng cách xử lý đồng thời tới 16 mẫu.
Kiểm soát nhiệt độ linh hoạt: Thiết bị này mang lại sự linh hoạt đáng kể trong việc lựa chọn dải đo, mở rộng lên đến 500°C. Đối với nhiệt độ thấp hơn, thiết bị có thể phân tích mẫu ở nhiệt độ thấp tới -100°C bằng cách sử dụng nitơ lỏng, hoặc đạt được các phép đo dưới nhiệt độ môi trường xuống tới 0°C với thiết bị làm lạnh bằng khí nén. Hệ thống sơ tán tích hợp cũng cho phép đo trong các môi trường được xác định chính xác.
Hiệu chỉnh nâng cao đặc biệt cho mẫu mỏng hoặc có độ dẫn điện cao: Phiên bản mới nhất của phần mềm phân tích có tính năng hiệu chỉnh xung phân tích được cải thiện. Cải tiến này rất quan trọng đối với các ứng dụng có độ chính xác cao đòi hỏi độ phân giải thời gian đặc biệt, đặc biệt khi kiểm tra các mẫu mỏng hoặc có độ dẫn điện cao, hoặc trong các tình huống mà xung ánh sáng trùng với phản ứng nhiệt của mẫu.
LFA 717 HyperFlash® là một công cụ không thể thiếu cho các nhà nghiên cứu và ngành công nghiệp yêu cầu đo lường tính chất nhiệt chính xác, khiến thiết bị trở thành một tài sản vô giá trong lĩnh vực khoa học vật liệu.
Kiểm soát nhiệt độ linh hoạt: Thiết bị này mang lại sự linh hoạt đáng kể trong việc lựa chọn dải đo, mở rộng lên đến 500°C. Đối với nhiệt độ thấp hơn, thiết bị có thể phân tích mẫu ở nhiệt độ thấp tới -100°C bằng cách sử dụng nitơ lỏng, hoặc đạt được các phép đo dưới nhiệt độ môi trường xuống tới 0°C với thiết bị làm lạnh bằng khí nén. Hệ thống sơ tán tích hợp cũng cho phép đo trong các môi trường được xác định chính xác.
Hiệu chỉnh nâng cao đặc biệt cho mẫu mỏng hoặc có độ dẫn điện cao: Phiên bản mới nhất của phần mềm phân tích có tính năng hiệu chỉnh xung phân tích được cải thiện. Cải tiến này rất quan trọng đối với các ứng dụng có độ chính xác cao đòi hỏi độ phân giải thời gian đặc biệt, đặc biệt khi kiểm tra các mẫu mỏng hoặc có độ dẫn điện cao, hoặc trong các tình huống mà xung ánh sáng trùng với phản ứng nhiệt của mẫu.
LFA 717 HyperFlash® là một công cụ không thể thiếu cho các nhà nghiên cứu và ngành công nghiệp yêu cầu đo lường tính chất nhiệt chính xác, khiến thiết bị trở thành một tài sản vô giá trong lĩnh vực khoa học vật liệu.
Thông số kỹ thuật
| Dải nhiệt độ | -100°C đến 500°C (có sẵn phiên bản RT) |
| Tốc độ gia nhiệt | 50 K/phút |
| Hệ thống làm mát | Bộ làm lạnh bên ngoài (nhiệt độ phòng đến 500°C), tùy chọn: ∙ Làm mát bằng nitơ lỏng (-100°C đến 500°C) ∙ Không khí nén (0°C … 500°C) |
| Độ khuếch tán nhiệt | 0,01 mm2/giây … 2000 mm2/giây |
| Độ dẫn nhiệt | 0.1 W/(m·K) … 3000 W/(m·K) |
| Độ chính xác | ∙ Độ khuếch tán nhiệt1: ± 3% ∙ Nhiệt dung riêng2: ± 5% |
| Đèn Xenon flash | ∙ Năng lượng xung:
lên đến 10 Joule/xung (có thể thay đổi), điều khiển bằng phần mềm ∙ Độ rộng xung: 10 … 1500 μs |
| ZoomOptics | Đã được cấp bằng sáng chế; trường nhìn được tối ưu hóa (tùy chọn, không cần đeo mặt nạ) |
| Đầu dò IR | ∙ InSb: RT … 500°C ∙ MCT: -100°C … 500°C ∙ Nạp lại đầu dò (tùy chọn) |
| Không khí | Trơ, oxy hóa, tĩnh và động |
| Chân không | < 150 mbar |
| Thu thập dữ liệu | 2 MHz ∙ Thời gian đo tối thiểu (10 lần đo nửa) xuống còn 1 ms → đối với các mẫu có độ dẫn điện cao và/hoặc mỏng (ví dụ: tấm Al, Cu, màng mỏng, v.v.) ∙ Thời gian đo tối đa lên đến 120 giây → đối với các mẫu có độ dẫn điện thấp và/hoặc dày (ví dụ: polyme, vật liệu chịu lửa, v.v.) |
| Giá đỡ mẫu | ∙ Mẫu tròn và vuông ∙ Mẫu lỏng, bột nhão, nhựa, bột, sợi, vật liệu cán mỏng, mẫu dị hướng ∙ Thử nghiệm dưới áp suất cơ học |