LFA 467 HT HyperFlash®


Các phép đo độ dẫn nhiệt và độ khuếch tán nhiệt giữa RT và 1250°C với đèn Xenon

LFA 467 HT HyperFlash® phát triển trên cơ sở công nghệ nền tảng của LFA 467 HyperFlash® và không yêu cầu lớp laser do hệ thống nguồn sáng đổi mới tiên tiến. Tuổi thọ bền của đèn xenon cung cấp giải pháp đo với chi phí hiệu quả ở mức nhiệt độ lên đến 1250°C mà không tốn chi phí vật tư tiêu hao.

Tốc độ lấy mẫu cực kỳ nhanh (lên đến 2MHz) và độ rộng xung cực ngắn (lên đến 20 µs) cho phép đo các vật liệu có độ dẫn cao và mỏng

Tốc độ thu nhận dữ liệu của các dòng LFA 467 HyperFlash® được cải tiến tăng lên đến 2MHz. Tốc độ thu nhận này áp dụng cho cả đầu dò IR và các kênh lập biểu đồ xung. Vì vậy, các vật liệu mỏng và/hoặc có độ dẫn cao cần thời gian thử nghiệm rất ngắn với độ tin cậy cao.

Liên Hệ
Phạm vi nhiệt độ
RT to >1250°C
Tốc độ gia nhiệt (max.)
50 K/min
Đầu dò IR
- InSb: RT > 1250°C
- Máy dò thiết bị nạp
Tốc độ thu dữ liệu
lên đến 2 MHz (cho cả phát hiện nhiệt độ và lập biểu đồ xung)
Độ khuếch tán nhiệt
0.01 mm2/s đến 2000 mm2/s
Độ dẫn nhiệt
< 0.1 W/(m*K) đến 4000 W/(m*K)
Công nghệ lập biểu đồ xung được cấp bằng sáng chế để hiệu chỉnh xung hữu hạn và cải thiện xác định cp
Môi trường
trơ, oxy hóa, tĩnh, động
Chân không
10-4 mbar
Bộ giữ mẫu
Cho mẫu vuông và tròn
Kiểm soát khí
MFC và AutoVac
TOP