Máy quét hạt tia X OCS XP7 mới giúp phát hiện các khuyết tật kim loại, sự nhiễm bẩn kim loại trong nguyên liệu hạt trong suốt và không trong suốt, giúp cải thiện chất lượng polyme và sản phẩm của phòng thí nghiệm. Công nghệ tia X tiên tiến trong hệ thống đo của XP7 phân tích hình ảnh của dòng hạt cần kiểm tra theo thời gian thực. Do sự hấp thụ khác nhau của tia X trong kim loại và trong polyme, các hạt kim loại nhiễm bẩn có thể được phát hiện từ kích thước 50 µm. Các hạt bị nhiễm bẩn được phân loại bằng hệ thống vòi phun khí nhiều rãnh.

Hệ thống quét hạt PS25C được sử dụng để phát hiện và phân tích các vật liệu nhựa trong suốt và không trong suốt ở dạng hạt. Người dùng thường nạp nguyên liệu cần phân tích vào phễu bằng tay hoặc nguyên liệu có thể được nạp tự động bằng hệ thống trực tuyến (Hệ thống vận chuyển hạt) hoặc hệ thống đa phễu. Các hạt này được vận chuyển trên một kênh rung và đi qua khu vực kiểm tra và được kiểm tra bằng camera màu chip 3-CCD độ phân giải cao. Hệ thống camera có thể phát hiện dị vật, tạp chất hoặc sai lệch màu sắc.

Máy đo phân bố kích thước và hình dạng hạt PSSD là một thiết bị được sử dụng để phân tích và phân loại nhanh kích thước và hình dạng của hạt nhựa. Mỗi biến thể của hình dạng hạt, kích thước, đường kính, độ giãn dài, độ tròn, độ nhám và / hoặc độ lồi sẽ được ghi lại trong quy trình đo lường và có thể được hiển thị trong bảng hoặc đồ thị. Nó cũng cung cấp một loạt các cấu hình tùy chỉnh để phù hợp với nhu cầu và mục tiêu của khách hàng một cách hoàn hảo.

Máy phân tích hạt nhựa PA66 là sự kết hợp của hệ thống Phân bố hình dạng và kích thước hạt PSSD hiệu suất cao , Máy quét hạt PS25C và máy soi màu CM2 (tùy chọn đo màu) phù hợp với các yêu cầu liên quan đến độ tinh khiết, màu sắc và các đặc tính khác nhau của hạt polymer.